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T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
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6.77 MB
文档格式
pdf
语言
中文
类别
团体标准
更新日期
2025-07-07
关键词
人工智能
芯片
边缘
深度
面向
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T∕CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
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