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DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电性能测试方法

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中文

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更新日期

2025-06-28

关键词

磁体超导用于绝缘子复合材料

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DB34∕T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电性能测试方法

DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电性能测试方法

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